Especificaciones técnicas:

 

  • Voltaje de aceleración de 200 kV.
  • Cañón de electrones termoiónico de LaB6.
  • Resolución entre puntos de 0.31 nm.
  • Portamuestras disponibles: doble inclinación de ± 45º, calentamiento hasta 800ºC, rotación-inclinación y estiramiento.
  • Sistema de difracción de electrones por precesión (Spinning Star) y un difractómetro para la adquisición de intensidades difractadas.

 

 

 

El estudio preliminar de los materiales se lleva a cabo en este microscopio ya que permite obtener una información general a nivel estructural y composicional que en ocasiones puede resultar suficiente pero que, de cualquier modo, constituye la base para un estudio más completo en otros microscopios de mayor resolución. Como consecuencia de su amplia capacidad de giro (±45º) es ideal para estudiar la red recíproca. Además, es posible obtener imágenes de resolución media (0.31 nm de resolución estructural). Por otra parte, este microscopio está provisto de un sistema de difracción de electrones por precesión que permite la determinación estructural por difracción de electrones de cristales y nanocristales.

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