Especificaciones técnicas:

 

  • Voltaje de aceleración de 200 kV
  • Cañón de electrones de emisión de campo tipo Schottky.
  • Resolución entre puntos de 0.24 nm y tamaño mínimo de haz de electrones de 0.2 nm.
  • Sistema de microanálisis por XEDS (tipo EDAX DX-4).
  • GIF 200 para adquirir espectros EELS con resolución de energía de 0.8 eV y para adquirir imágenes y diagramas de difracción con filtro de energía (EFTEM).
  • Equipado con portamuestras de bajo fondo (Be) de doble inclinación (± 30º) y portamuestras de enfriamiento (- 170 ºC) GATAN de bajo fondo.

 

 

 

Este microscopio está especialmente indicado para la nano-caracterización, estructural y analítica, de materiales ya que presenta un cañón de electrones de emisión de campo (FEG) que permite obtener haces muy intensos y de tamaño sub-nanométrico de hasta 0.2 nm. Además del analizador de XEDS, está dotado de un filtro de energía Gatan (GIF) que permite obtener espectros de pérdida de energía de electrones (EELS) que aportan información cualitativa y cuantitativa sobre elementos ligeros, estados de oxidación de los cationes metálicos e incluso sobre el tipo de enlace. Además, el filtrado de energías permite obtener mapas químicos con resolución espacial de hasta 1 nm incluso de elementos ligeros como boro, nitrógeno u oxígeno. Debido al fino tamaño del haz y a su gran intensidad, esta información analítica se puede obtener incluso en áreas subnanométricas.