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    Nuevo microscopio electrónico de barrido IT700HR

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El Centro Nacional de Microscopía Electrónica, junto con otros diecisiete Centros de Asistencia a la Investigación (CAI) han recibido el pasado 9 de febrero los certificados de calidad ISO 9001:2015, que acreditan la calidad de sus procesos.

Enlace a la noticia de Tribuna Complutense aquí.

 

A partir de enero de 2024 comenzarán a ser efectivas las reservas en el nuevo microscopio electrónico de barrido JSM IT700HR.

Este microscopio está especialmente indicado para la caracterización superficial de muestras tanto dentro del área de la ciencia de materiales como del área de las ciencias de la vida. El equipo ofrece la posibilidad de trabajar tanto en alto como en bajo vacío, especialmente indicado para muestras con un cierto grado de humedad o sensibles al haz de electrones. Por ello y gracias a los detectores de electrones secundarios, retrodispersados, espectroscopía dispersiva de rayos X y cátodoluminiscencia, se consigue obtener una información muy completa de las muestras objeto de estudio.

Para más información sobre las características técnicas de este equipo, haga click aquí.

 

 

La ICTS ELECMI lanza su primer proceso de acceso abierto competitivo de 2024, para la solicitud gratuita de sus equipos. La convocatoria está abierta al sector I+D+i y el mundo empresarial.

De todas las solicitudes enviadas, las mejor valoradas pasarán a disponer de un tiempo de medición sin coste alguno. Los centros de investigación y las PYMES tendrán acceso a instalaciones de última generación en análisis y caracterización de materiales a nivel europeo.

Entre sus principales ventajas, ELECMI destaca la creación de un punto único de acceso para todos los solicitantes de fácil acceso y cumplimentación, y la posibilidad de obtener tiempo de análisis sin coste alguno.

Las propuestas recibidas, evaluadas en primer lugar por el personal de la instalación para comprobar su viabilidad técnico-científica, serán sucesivamente examinadas por un Comité de Acceso compuestos por expertos independientes y miembros de ELECMI.

El amplio conjunto de equipamientos y técnicas en Microscopía Electrónica y Sonda Local está dedicado a la observación, análisis y caracterización de materiales a escala atómica y molecular, entre otras técnicas. Seguirá disponible también el acceso bajo demanda de todos los equipos, ofreciendo así un soporte 360º a las exigencias industriales y científicas de los usuarios de ELECMI.

Los centros que integran actualmente ELECMI son: el CNME (Centro Nacional de Microscopía Electrónica) de la Universidad Complutense de Madrid; el LMA (Laboratorio de Microscopias Avanzadas) de la Universidad de Zaragoza; la DME (División de Microscopía Electrónica) de la Universidad de Cádiz y la UMEAP (Unidad de Microscopía Electrónica Aplicada a Materiales) de la Universidad de Barcelona.

 

FECHAS CLAVE PRIMERA CONVOCATORIA 2024

FECHAS DE SOLICITUD: del 1 al 20 de diciembre de 2023, hasta las 13h CEST, Madrid

RESOLUCIÓN: alrededor de la segunda semana de febrero de 2024

FORMULARIO ÚNICO: https://form.elecmi.es/entryfrm.php

MIRA LOS EQUIPOS SINGULARES: https://elecmi.es/equipos-singulares/

PROTOCOLO E INSTRUCCIONES DE ACCESO: https://elecmi.es/protocolo-acceso-abierto-competitivo/

WEB ELECMI: https:/elecmi.es/

Contacto:

Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.

Se comunica que el próximo 9 de octubre se iniciaran los trabajos de desmontaje de la microsonda JXA8900. Este equipo ha sido descatalogado por JEOL, por lo que se elimina el servicio de reparación y mantenimiento.

Una vez desmontada, se procederá a la instalación, puesta a punto y formación de la microsonda de nueva generación JXA IHP200F + SXES. Se prevé que el nuevo equipo este operativo a partir de enero 2024. Se informará oportunamente.

Gracias por su colaboración.

 

Estimados usuarios de la ICTS de Microscopia Electrónica de la UCM,


Se comunica que, con motivo de la jubilación del Prof. José María González Calbet, la nueva directora de esta ICTS de Microscopia Electrónica es la Prof. María Varela del Arco, Catedrática de Física de la Materia Condesada (Departamento de Física de Materiales, Facultad de Ciencias Físicas, UCM), reconocida especialista en el uso de técnicas avanzadas de microscopía electrónica aplicadas a la investigación de materiales, con amplia experiencia en la caracterización de sistemas de baja dimensionalidad. La profesora Varela, usuaria de esta instalación desde que hacía su tesis, contribuirá con su conocimiento y experiencia al buen funcionamiento de esta ICTS para el desarrollo de vuestros proyectos científicos.

 

Contacto

Centro Nacional de Microscopía Electrónica
Facultad de Químicas
Av. Complutense s/n
28040 Madrid
Horario de atención: 8:00 a 22:00 de lunes a viernes
Dirección: 91 394 4188
Gestión y Dirección científica: 91 394 4808
Secretaría: 91 394 4190
ICTS financiada por: